+7 (495)748-85-05

info@poverka-ndt.ru

0
Нет товаров
 x 
Корзина пуста
Поверка дефектоскопа  USM 25

Поверка дефектоскопа USM 25

Небольшой, компактный высокоэффективный микропроцессорный дефектоскоп USM 25. Ультразвуковой дефектоскоп USM 25 имеет глубиномер для работы с наклонными преобразователями.
Артикул: 07215
Производитель: Krautkramer
3894 руб
Аттестация: Tooltip
Купить в 1 клик

Малогабаритный ультразвуковой дефектоскоп USM 25 Krautkramer

Тип оборудования: ультразвуковой дефектоскоп

Производитель: Krautkramer GE Inspection Technologies GmbH, Германия

Серия: USM

Модель: USM 25

Описание: Высокочастотный ультразвуковой прибор для поиска дефектов в металле и в других однородных материалов

Гарантия на ультразвуковой дефектоскоп USM 25: 1 год.

Назначение ультразвукового дефектоскопа USM 25

Ультразвуковой дефектоскоп USM 25 предназначен для обнаружения дефектов (нарушение сплошности и однородности материалов) в полуфабрикатах, готовых изделиях и сварных соединениях, для измерения глубины и координат их залегания, измерения толщины, измерения скорости распространения и затухания ультразвуковых колебаний (УЗК) в материале при контроле по международным стандартам.

Небольшой, компактный высокоэффективный микропроцессорный дефектоскоп. Ультразвуковой дефектоскоп USM 25 имеет глубиномер для работы с наклонными преобразователями.

Отличительные особенности ультразвукового дефектоскопа USM 25

  • малый вес и небольшие размеры;
  • контрастный, яркий, четко читаемый при всех условиях освещения ЖК-индикатор с большим углом обзора;
  • легко усваиваемая концепция управления прибором с использованием двух вращающихся ручек;
  • измерение толщины с точностью до 0,01 мм, измерение координат дефектов при работе с наклонными преобразователями;
  • встроенная память и интерфейс RS 232;
  • USM 25 DAC, USM 25S - оценка допустимости дефектов по кривой амплитуда - расстояние или работа с ВРЧ; USM 25S - встроенные электронные АРД-диаграммы для наиболее распространенных типов преобразователей и с возможностью построения их для любого типа совмещенного преобразователя;
  • дополнительная функция встроенной памяти UM 27D для запоминания до 5000 результатов измерения толщины и до 500 изображений сигналов с разбивкой на объекты с числом до 100;
  • два независимых стробирующих импульса с запуском строба В от сигнала в стробе А (например, при синхронизации с сигналом от поверхности);
  • лупа времени (для обоих стробирующих импульсов);
  • индикация сигналов как радиоимпульсов в диапазоне до 50 мм (по стали);
  • режим сравнения - наложение существующей последовательности отраженных сигналов на ранее запомненную (аналогично USD 15);
  • полуавтоматическая калибровка по двум точкам;
  • USM 25 DAC и USM 25 S - простое формирование кривой амплитуда-расстояние (АРК), введение обозначения ее во время записи, дублирование до 4-х кривых с заданием интервала между ними;
  • внутренняя память - 200 блоков данных c изображением на экране;
  • новая концепция отображения настройки прибора: настройка - каталог настройки;
  • отсутствие двузначности функциональных клавиш - за счет введения 3-его уровня управления (двойное значение клавиш только в меню АРД и в меню АРК в USM 25 DAC и USM 25 S);
  • задаваемый режим печати для конкретного вида документирования: изображение отраженных сигналов, сообщение, выбранный результат измерения, каталог функций, запоминание блока данных и номер блока данных с автоматическим изменением номера:
  • свободно конфигурируемая строка измеренных значений;
  • расширенный список языков диалога;
  • предварительная установка контрастности ЖК-индикатора при включении с учетом температуры окружающей среды;
  • включение и выключение подсветки при повторном нажатии клавиши.

 

Технические характеристики ультразвукового дефектоскопа USM 25

Частотный диапазон USM 22B: 0,5 - 15 МГц
USM 22L: 0,1 - 10 МГц (три поддиапазона)
USM 25: 0,5 - 20 МГц (0,5 - 4 МГц, 2 - 20 МГц, 0,8 - 8 МГц, три поддиапазона)
Диапазон калибровки по глубине мин. 0 - 2,5 мм + 10%
макс. 0 - 9999 мм + 10%
USM 22B: 0 - 1420 мм + 10%
Задание скорости звука 1000 - 15000 м/с, плавно через 1 м/с
Смещение сигналов - 10 до 1024 мм
Регулировка усиления 0 - 110 дБ ступенями 0,5;1;2;6;12 (0 - блокировка изменения усиления) 
USM 25: плавно в пределах 4 дБ
Частота следования импульсов 8 - 1000 Гц, регулируемая 
USM 22B: 300 Гц, нерегулируемая 400 Гц
Форма представления эхо-сигналов двухполупериодное детектирование
USM 25: дополнительно - детектирование по положительной или отрицательной полуволне, ВЧ-сигнал
Отсечка 0 - 80% высоты шкалы экрана
Оценка параметров эхо-сигналов измерение пути прохождения и разницы расстояний по фронту сигнала, измерение амплитуды сигналов в % от высоты экрана
USM 25: дополнительно - глубина залегания и расстояние до проекции дефекта на поверхность, измерения по фронту или пику сигнала,
USM 25 DAC, USM 25 S - амплитуда в дБ относительно кривой, 
USM 25 S дополнительно в % или как диаметр дискового отражателя относительно кривой
Индикатор ЖК-индикатор, 96 х 72 мм, 320 х 240 точек
Интерфейс RS 232, ввод и вывод данных
Выходные сигналы USM 25 синхронизация, срабатывание АСД
Встроенная память USM 22: 100 блоков параметров настройки, включая изображение
USM 25: 200 блоков параметров настройки, включая изображение, комментарий, просмотр изображения, каталог
Питание от 4 никель-кадмиевых аккумуляторов, сухих батарей или от сети
Размеры (ШхВхГ) 245 мм х 265 мм х 46 мм
Масса 1,6 кг с никель-кадмиевыми аккумуляторами

*Технические характеристики и комплект поставки дефектоскопа могут быть изменены производителем без предварительного уведомления.


Оставить отзыв


Нажимая кнопку "Отправить", я подтверждаю свою дееспособность, даю согласие на обработку моих персональных данных в соответствии с Условиями.

Вы недавно смотрели

Категории

Новости

  • Начало работы сайта метрологической службы +

    Начало работы сайта метрологической службы Начал работу новый сайт нашей компании. По всем вопросам связанным ПОДРОБНЕЕ
  • 16-я Международная выставка оборудования для неразрушающего контроля и технической диагностики +

    16-я Международная выставка оборудования для неразрушающего контроля и технической диагностики С 25 по 27 октября 2016 года в Москве, в ПОДРОБНЕЕ
  • 1
  • 2