+7 (495)748-85-05

info@poverka-ndt.ru

0
Корзина
 x 
Корзина пуста
Поверка толщиномера покрытий DualScope MPORПоверка толщиномера покрытий DualScope MPOR

Поверка толщиномера покрытий DualScope MPOR

Универсальный портативный толщиномер немагнитных покрытий на магнитном (стальном) и немагнитном основаниях (алюминий, медь)DualScope MPOR , обеспечивающий точные измерения под любым углом. Для удобства снятия показаний имеет два дисплея - сбоку и сверху прибора. Встроенный датчик давления позволяет проводить точные измерения независимо от силы нажатия на прибор. Устойчивая конструкция прибора исключает влияние качания прибора при измерениях.
Артикул: 23316
Производитель: Fischer
2 655 руб
Аттестация: Tooltip
Купить в 1 клик

Тип оборудования: толщиномер

Производитель: Helmut Fischer GmbH Institut fur Elektronik und Messtechnik, Германия

Модель: DualScope MPOR

Описание: прибор для измерения толщины покрытий

Гарантия: 12 месяцев

Назначение прибора: Толщиномер покрытий DualScope MPORпредназначены для неразрушающего контроля толщины покрытий. Основной областью применения являются заводские лаборатории металлургических, металлообрабатывающих, приборостроительных и машиностроительных предприятий.

Технические характеристики толщиномера покрытий DualScope MPOR:

Диапазон измерения, мкм:

0-2000

Погрешность, %

±2

Память

Возможность запоминания до 1000 измерений.

Диапазон рабочих температур

0...40°C

 

Комплект поставки:

  • Толщиномер
  • Руководство по эксплуатации.

*Технические характеристики и комплект поставки могут быть изменены производителем без предварительного уведомления.


Оставить отзыв


Защитный код
Обновить

Вы недавно смотрели

Категории

Новости

  • Начало работы сайта метрологической службы +

    Начало работы сайта метрологической службы Начал работу новый сайт нашей компании. По всем вопросам связанным ПОДРОБНЕЕ
  • 16-я Международная выставка оборудования для неразрушающего контроля и технической диагностики +

    16-я Международная выставка оборудования для неразрушающего контроля и технической диагностики С 25 по 27 октября 2016 года в Москве, в ПОДРОБНЕЕ
  • 1
  • 2